MD-GP8-SPR是一款高性能能量色散型X射線熒光光譜儀（EDXRF），獨創的光路系統、散熱系統、控制系統以及軟件算法，使HeLeeX E8-SPR在測試精密度、準確度和操作便捷性上超越國內外同類產品，其卓越的性能被廣泛的應用于RoHS/HF檢測、重金屬檢測、合金成分分析、貴金屬檢測、鍍層測試、土壤成分分析、礦石成分分析等領域，并得到權威第三方檢測機構、上市企業以及其他中小型知名企業用戶的一致好評。

應用領域：

1、電子電器中有害元素檢測：2011/65/EU(RoHS2.0) 、GB/T 26125-2011

2、金屬成份分析，金屬牌號識別

3、金屬成份分析，金屬牌號識別

4、食品安全：GB 2762-2005

5、皮革/玩具中重金屬檢測：ASTM F963指令、2009/48/EC指令

6、鍍層厚度測試：GB/T 16921-2005、ISO 3497:2000

7、貴金屬檢測，貴金屬回收：GBT 18043-2013

8、水質檢測，電鍍液成分檢測，廢水排放檢測

測試性能：

• RoHS /ELV無鹵指令（Pb、Cd、Hg、Cr、Br、Cl），檢測范圍：5ppm-99.99%（鹵素檢測范圍：30ppm-90%）;
• ASTM963－11指令（Pb、Cr、Ba、Hg、Cd、Sb、Se、As）;
• 2009/48/EC指令（Pb、Cr、Ba、Hg、Cd、Sb、Se、As、Co、Cu、Zn、Mn、Sr、Sn、Ni）;
• 鍍層分析：各種基材鍍Au、Ag、Cu、Ni、Sn、Zn、Cr等檢測范圍：001um-30um，11次重復性：0.05um（檢測最外層鍍層為1um左右時）；
• 合金分析：鋼鐵、銅類等成分分析，檢測元素范圍：Na-U，檢測濃度范圍：50ppm-99.99%。多次重復性：小于1%（含量5%左右）。
• 元素成分分析、礦物成分分析：能精確定量分析各種復雜樣品中元素分析，能通過測試鈣元素和硅元素的含量定量分析氧化鈣含量、氧化硅含量；測試濃度范圍：0.1-99.9%。測試穩定性：0.3%。

儀器特點：

• 獨特可視化鉛玻璃防輻設計。
• 雙重迷宮設計，防輻設計。
• 安全連鎖設計，誤操作時，0.1μS快速切斷X射線。
• X射線開關鎖設計。
• 經權威第三方檢測，X射線劑量率完全符合GB18871-2002《電離輻射防護與輻射源安全基本標準》。
• 三種樣品倉尺寸，滿足各種規格樣品測試需求。
• 采用美國完整版原裝進口一體式X-123半導體X射線探測器，其先進的半導體制冷技術，高峰背比（信噪比），超高計數率，優越的分辨率和穩定性以及高集成化等特點，超越其他品牌或同品牌的組裝探測器。
• HeLeeX E8-SPR采用模塊化分體式X射線準直器技術，根據用戶需求，可快速配置Φ1mm、Φ0.3mm、Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ3mm、Φ5mm、Φ7mm準直器。滿足樣品中不同大小點測試需求。

軟件特點：

• EDXRF Workstation是禾苗儀器專有版權的配套使用軟件，操作軟件界面簡潔、層次清晰、操作簡單。配備中、英雙軟件操作界面。
• EDXRF Workstation 具有數據及系統信息的一鍵備份、一鍵恢復功能，可簡單快速的備份、恢復儀器所有數據，從而保證測試系統的完整性和安全性。
• EDXRF Workstation 具有X射線譜圖對比功能，方便用戶進行材料中元素成分、含量差異對比功能。
• EDXRF Workstation 具有3種定量方法、6種分析方法以及6種分析單位，從而保證測試數據精準度，滿足各種測試需求。
• EDXRF Workstation 具有多種報告模板樣式（用戶也可自行編輯修改優化），且具有EXCEL、WORD、PDF三種報告格式。多點，多次數據統計，輕松計算最大值、最小值、平均值、標準偏差。軟件根據用戶設置的合格限值自動判斷測試結果是否合格。

儀器配置：

外圍配置：

豐富的標準物質數據庫：

• 部分英國、美國和國產銅合金、鋅合金、錫合金、鋼合金、PE、PVC、ABS、液體、粉末、貴金屬、食品等標準物質。
• 部分美國、德國、韓國、日本進口Au、Ag、Cu、Sn、Zn、Ni、Pd、Ti、Pb等鍍層標準物質。